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深圳|广州|东莞|中山|惠州ICT|ICT测试仪【捷甫电子】陈先生，13392835889
影响测试仪的测试策略参数是什么?
随着自动设备成为电子装配过程整体的一部分，DFT(design for test，可测试设计)不仅仅包括传统的硬件使用知识，而且也包括测试仪的测试设备诊断能力的知识。可测试设计不是单个人的事情，而是由设计工程部、测试工程部、制造部和采购部的代表所组成的一个小组的工作。
设计工程必须规定功能产品及其误差要求，测试工程必须提供一个以最低的成本、最少的返工及达到仅尽可能高的第一次通过合格率(FPY, fast-passyield)的策略，制造部和品质部必须提供生产成本输入。
在过去类似的测试仪产品中什么已经做过、什么没有做过，以及提高产品的设计(DFV. design for volume)，采购部必须提供可获得元件，特别是可靠性的信息。
测试部和采购部在购买在板(on-board)测试硬件的元件时，必须联合工作以保证这些元件是可获得的和易于实施的。通常把测试系统当做收集有关历史数据的传感器使用，以达到过程的改善，这是产品小组的目标。所以这些功能应该在拿掉任何节点选取之前完成。
在制定测试环境的政策之前，准备和了解是关键的，影响测试仪的测试策略的参数包括可访问性、完全访问和大的测试W盘是为实现设计电路板的月标。遗憾的是，多数设计工程师认为测试点的可访问性是印刷电路板。
地 址：深圳市公明镇马山头世峰科技园124栋